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質(zhì)構(gòu)儀探頭-食品探頭 TA/MPT
更新時間：2026-01-11
訪問量：1762
產(chǎn)品型號：
產(chǎn)品特點：質(zhì)構(gòu)儀探頭-食品探頭 TA/MPT該裝置由環(huán)繞錐體的18個鋸齒狀缺口組成，樣品可自動滾入缺口進(jìn)入測試位置。穿透實驗可穿透整個豆粒，并對刺破強度和穿刺力進(jìn)行測量還可以用于測量其它豆類及糖果樣品。該裝配用于大豆等顆粒狀的樣品，可獲得硬度、破裂強度等參數(shù)。
質(zhì)構(gòu)儀探頭-食品探頭 TA/MPT的詳細(xì)資料：
質(zhì)構(gòu)儀探頭-食品探頭 TA/MPT
該裝置由環(huán)繞錐體的18個鋸齒狀缺口組成，樣品可自動滾入缺口進(jìn)入測試位置。穿透實驗可穿透整個豆粒，并對刺破強度和穿刺力進(jìn)行測量還可以用于測量其它豆類及糖果樣品。該裝配用于大豆等顆粒狀的樣品，可獲得硬度、破裂強度等參數(shù)。
質(zhì)構(gòu)儀探頭-食品探頭 TA/MPT
該裝置由環(huán)繞錐體的18個鋸齒狀缺口組成，樣品可自動滾入缺口進(jìn)入測試位置。穿透實驗可穿透整個豆粒，并對刺破強度和穿刺力進(jìn)行測量還可以用于測量其它豆類及糖果樣品。該裝配用于大豆等顆粒狀的樣品，可獲得硬度、破裂強度等參數(shù)。
質(zhì)構(gòu)儀探頭-食品探頭 TA/MPT
該裝置由環(huán)繞錐體的18個鋸齒狀缺口組成，樣品可自動滾入缺口進(jìn)入測試位置。穿透實驗可穿透整個豆粒，并對刺破強度和穿刺力進(jìn)行測量還可以用于測量其它豆類及糖果樣品。該裝配用于大豆等顆粒狀的樣品，可獲得硬度、破裂強度等參數(shù)。
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