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電路芯片拉拔力測試儀怎么用電路芯片拉拔力測試儀怎么用 電路芯片膠粘劑拉拔力測試儀TA.XTC-LSG設(shè)備概述：主要適用于各類芯片、液晶屏幕等電子材料膠水復(fù)合材料進(jìn)行力學(xué)性能測試和分析研究。具有應(yīng)力、應(yīng)變、荷重、位移四種閉環(huán)控制方式，可求出拉拔力、抗拉強度、彎曲強度、壓縮強度、彈性模量、斷裂延伸率、屈服強度等參數(shù)。根據(jù)GB及ISO、JIS、ASTM、DIN等國際標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行試驗和提供檢測數(shù)據(jù)。
訪問量：995 更新時間：2025-10-13 所在地：上海市
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芯片膠水拉拔力測定儀
芯片膠水拉拔力測定儀 電路芯片膠粘劑拉拔力測試儀TA.XTC-LSG設(shè)備概述：主要適用于各類芯片、液晶屏幕等電子材料膠水復(fù)合材料進(jìn)行力學(xué)性能測試和分析研究。具有應(yīng)力、應(yīng)變、荷重、位移四種閉環(huán)控制方式，可求出拉拔力、抗拉強度、彎曲強度、壓縮強度、彈性模量、斷裂延伸率、屈服強度等參數(shù)。根據(jù)GB及ISO、JIS、ASTM、DIN等國際標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行試驗和提供檢測數(shù)據(jù)。
訪問量：1000 更新時間：2025-10-13 所在地：上海市
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電路芯片拉拔力測試儀
電路芯片拉拔力測試儀 電路芯片膠粘劑拉拔力測試儀TA.XTC-LSG設(shè)備概述：主要適用于各類芯片、液晶屏幕等電子材料膠水復(fù)合材料進(jìn)行力學(xué)性能測試和分析研究。具有應(yīng)力、應(yīng)變、荷重、位移四種閉環(huán)控制方式，可求出拉拔力、抗拉強度、彎曲強度、壓縮強度、彈性模量、斷裂延伸率、屈服強度等參數(shù)。根據(jù)GB及ISO、JIS、ASTM、DIN等國際標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行試驗和提供檢測數(shù)據(jù)。
訪問量：1131 更新時間：2025-10-13 所在地：上海市
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芯片電子膠粘劑拉拔力測試儀
芯片電子膠粘劑拉拔力測試儀 電路芯片膠粘劑拉拔力測試儀TA.XTC-LSG設(shè)備概述：主要適用于各類芯片、液晶屏幕等電子材料膠水復(fù)合材料進(jìn)行力學(xué)性能測試和分析研究。具有應(yīng)力、應(yīng)變、荷重、位移四種閉環(huán)控制方式，可求出拉拔力、抗拉強度、彎曲強度、壓縮強度、彈性模量、斷裂延伸率、屈服強度等參數(shù)。根據(jù)GB及ISO、JIS、ASTM、DIN等國際標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行試驗和提供檢測數(shù)據(jù)。
訪問量：937 更新時間：2025-10-13 所在地：上海市
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芯片電子拉拔力測試
芯片電子拉拔力測試 電路芯片膠粘劑拉拔力測試儀TA.XTC-LSG設(shè)備概述：主要適用于各類芯片、液晶屏幕等電子材料膠水復(fù)合材料進(jìn)行力學(xué)性能測試和分析研究。具有應(yīng)力、應(yīng)變、荷重、位移四種閉環(huán)控制方式，可求出拉拔力、抗拉強度、彎曲強度、壓縮強度、彈性模量、斷裂延伸率、屈服強度等參數(shù)。根據(jù)GB及ISO、JIS、ASTM、DIN等國際標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行試驗和提供檢測數(shù)據(jù)。
訪問量：1036 更新時間：2025-10-13 所在地：上海市
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